TCVN 5877:1995

ISO 2361:1982

LỚP MẠ ĐIỆN NIKEN TRÊN CHẤT NỀN TỪ VÀ KHÔNG TỪ - ĐO CHIỀU DÀY LỚP MẠ - PHƯƠNG PHÁP TỪ

Electrodeposited nikel coatings on magnetic and non-magnetic substrates - Measurement of coating thickness - Magnetic method

Lời nói đầu

TCVN 5877:1995 hoàn toàn tương đương với ISO 2361:1982.

TCVN 5877:1995 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC 135 Thử không phá hủy biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học, Công nghệ và Môi trường (nay là Bộ Khoa học và Công nghệ) ban hành.

Tiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.

LỚP MẠ ĐIỆN NIKEN TRÊN CHẤT NỀN TỪ VÀ KHÔNG TỪ - ĐO CHIỀU DÀY LỚP MẠ - PHƯƠNG PHÁP TỪ

Electrodeposited nikel coatings on magnetic and non-magnetic substrates - Measurement of coating thickness - Magnetic method

1. Phạm vi và lĩnh vực áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp sử dụng dụng cụ đo bằng từ để đo không phá hủy chiều dầy lớp mạ điện niken trên chất nền từ và không từ.

Phương pháp này không áp dụng đối với các lớp mạ hóa học niken (không phải mạ điện) tùy thuộc vào thành phần hóa học của chúng.

Khi áp dụng tiêu chuẩn này cần phân biệt hai loại lớp mạ niken sau:

a) Lớp mạ niken trên chất nền từ (lớp mạ loại A);

b) Lớp mạ niken trên chất nền không từ (lớp mạ loại B).

Không được cho rằng tất cả các dụng cụ đều có thể sử dụng được cho cả hai lớp mạ này.

Phạm vi đo có hiệu quả của các dụng cụ đo dùng nguyên lý hấp dẫn từ lên tới 50 µm cho lớp mạ loại A và 25 µm cho lớp mạ loại B.

Đối với những dụng cụ dùng nguyên lý từ trở thì phạm vi đo có hiệu quả lớn hơn nhiều và các phép đo tới 1 mm hoặc hơn có thể thực hiện trên cả hai loại lớp mạ.

2. Tiêu chuẩn trích dẫn

ISO 1463, Lớp mạ kim loại và ôxit - Đo chiều dày lớp mạ. Phương pháp soi kính hiển vi.

ISO 2064, Lớp mạ kim loại và các lớp mạ vô cơ khác. Các định nghĩa và quy ước liên quan đến phép đo chiều dày.

ISO 2177, Lớp mạ kim loại. Đo chiều dày lớp mạ. Phương pháp đo điện lượng bằng phân hủy anôt.

3. Nguyên tắc

Các dụng cụ đo chiều dày của lớp mạ thuộc loại từ hoặc đo lực hấp dẫn giữa mặt nam châm vĩnh cửu và hợp chất mạ (hợp chất nền) hoặc đo từ trở của một từ thông chạy qua lớp mạ và chất nền.

4. Các yếu tố ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo

Những yếu tố sau đây có thể ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo chiều dày của lớp mạ.

4.1. Chiều dày của lớp mạ

Độ chính xác của một phép đo thay đổi theo chiều dày của lớp mạ mà chiều dày này phụ thuộc vào thiết kế của dụng cụ. Đối với lớp mạ mỏng, độ chính xác là không đổi và độc lập với độ dày của lớp mạ. Đối với lớp mạ dày, độ chính xác gần như không đổi