TIÊU CHUẨN QUỐC GIA
TCVN 5880:2010
ISO 3059:2001
THỬ KHÔNG PHÁ HỦY - THỬ HẠT TỪ VÀ THỬ THẨM THẤU - ĐIỀU KIỆN QUAN SÁT
Non-destructive testing - Penetrant testing and magnetic particle testing - Viewing conditions
Lời nói đầu
TCVN 5880:2010 thay thế TCVN 5880:1995
TCVN 5880:2010 hoàn toàn tương đương với ISO 3059:2001.
TCVN 5880:2010 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC 135 Thử không phá hủy biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.
THỬ KHÔNG PHÁ HỦY - THỬ HẠT TỪ VÀ THỬ THẨM THẤU - ĐIỀU KIỆN QUAN SÁT
Non-destructive testing - Penetrant testing and magnetic particle testing - Viewing conditions
1. Phạm vi áp dụng
Tiêu chuẩn này quy định cách kiểm soát các điều kiện quan sát trong thử hạt từ và thử thẩm thấu. Tiêu chuẩn này bao gồm các yêu cầu tối thiểu về độ chiếu sáng và độ rọi UV-A cùng các phương pháp đo các thông số này. Tiêu chuẩn này áp dụng khi kiểm tra phát hiện chủ yếu bằng mắt.
2. Tài liệu viện dẫn
Các tài liệu viện dẫn sau là rất cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng biên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi (nếu có).
TCVN 5868 (ISO 9712) Thử không phá hủy - Trình độ chuyên môn và cấp chứng chỉ cá nhân;
TCVN 8095-845 (IEC 60050-845) Từ vựng kỹ thuật điện quốc tế - Chiếu sáng.
3. Phòng ngừa an toàn
Cần tuân thủ các quy định quốc gia và địa phương về an toàn và sức khỏe.
Phải chú ý để giảm thiểu phơi nhiễm cá nhân với bức xạ UV-A. Nên tránh phơi nhiễm cá nhân với bức xạ UV-A dưới 330 nm. Phải tránh phơi nhiễm cá nhân với bức xạ UV-B và UV-C (do các lớp lọc bị hỏng hoặc vỡ).
4. Kỹ thuật tương phản màu
4.1. Nguồn sáng
Việc kiểm tra phải được thực hiện bằng ánh sáng tự nhiên hoặc ánh sáng nhân tạo. Không được dùng các nguồn ánh sáng đơn sắc như bóng đèn natri.
Bề mặt thử phải được chiếu sáng đều. Phải tránh để bề mặt gây chói mắt và phản xạ ánh sáng.
4.2. Phép đo
Độ chiếu sáng tại bề mặt thử phải được xác định bằng máy đo độ chiếu sáng trong điều kiện làm việc. Đáp ứng phổ danh định của máy đo phải phù hợp với TCVN 8095-845 (IEC 60050-845).
4.3. Yêu cầu
Độ chiếu sáng tại bề mặt thử phải là 500 Ix hoặc lớn hơn.
5. Kỹ thuật huỳnh quang
5.1. Bức xạ tử ngoại
Phép thử phải được thực hiện với bức xạ UV-A (bước sóng từ 315 nm đến 400 nm) từ nguồn phát có cường độ danh định cực đại ở bước sóng 365 nm.
CHÚ THÍCH: Độ rọi UV-A có thể thay đổi theo thời gian, do sự già hóa của bóng đèn, hoặc hư hỏng của vật phản xạ hoặc lớp lọc. Điều quan trọng là giảm thiểu ánh sáng nền nhìn thấy tới chi tiết hoặc tới mắt người kiểm tra trực tiếp từ đèn UV-A hoặc do sự che chắn các nguồn khác bị hạn chế.
5.2. Phương pháp đo
Độ rọi UV-A phải được đo trong điều kiện làm việc trên bề mặt thử bằng máy đo độ rọi UV-A, có đáp ứng độ nhạy xác định theo Hình 1.
Phép đo phải được thực hiện khi tín hiệu ra của đèn đã ổn định (không ít hơn 10 min sau khi bật máy).
Để đo độ chiếu sáng xem 4.2. Việc đọc trên máy đo độ chiếu sáng phải không bị ảnh hưởng của độ rọi UV-A.
5.3. Yêu cầu
Độ rọi UV-A phải lớn hơn 10 W/m2 (1000 mW/cm2) và độ chiếu sáng phải nhỏ hơn 20 Ix trên bề mặt thử. Phép đo phải được thực hiện trong điều kiện làm việc với nguồn UV-A bật và ổn định.
Với phép thử
Để xem đầy đủ nội dung Tiêu chuẩn/Quy chuẩn và sử dụng toàn bộ tiện ích của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
- 1Tiêu chuẩn quốc gia TCVN5115:2009 (ISO 7963:2006) về Thử không phá hủy - Thử siêu âm - Yêu cầu kỹ thuật của mẫu chuẩn số 2
- 2Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6111:2009 (ISO 5579 : 1998) về Thử không phá hủy - Kiểm tra chụp ảnh bức xạ các vật liệu kim loại bằng tia X và tia Gamma - Quy tắc cơ bản
- 3Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7508:2005 (EN 12517 : 1998) về Kiểm tra không phá hủy mối hàn - Kiểm tra mối hàn bằng chụp tia bức xạ - Mức chấp nhận
- 4Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 4396:1986 về Kiểm tra không phá hủy - Phương pháp dùng bột từ
- 5Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5870:1995 (ISO 9935:1992) về Thử không phá hủy - Thiết bị dò khuyết tật thẩm thấu - Yêu cầu kỹ thuật chung
- 6Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5868:2018 (ISO 9712:2012) về Thử không phá hủy - Trình độ chuyên môn và cấp chứng chỉ cá nhân thử không phá hủy
- 1Quyết định 2741/QĐ-KHCN năm 2010 công bố Tiêu chuẩn quốc gia do Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành
- 2Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8095-845:2009 (IEC 60050-845:1987) về từ vựng kỹ thuật điện quốc tế - Phần 845: Chiếu sáng
- 3Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5868:2009 (ISO 9712 : 2005) về Thử không phá hủy - Trình độ chuyên môn và cấp chứng chỉ cá nhân
- 4Tiêu chuẩn quốc gia TCVN5115:2009 (ISO 7963:2006) về Thử không phá hủy - Thử siêu âm - Yêu cầu kỹ thuật của mẫu chuẩn số 2
- 5Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 6111:2009 (ISO 5579 : 1998) về Thử không phá hủy - Kiểm tra chụp ảnh bức xạ các vật liệu kim loại bằng tia X và tia Gamma - Quy tắc cơ bản
- 6Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7508:2005 (EN 12517 : 1998) về Kiểm tra không phá hủy mối hàn - Kiểm tra mối hàn bằng chụp tia bức xạ - Mức chấp nhận
- 7Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 4396:1986 về Kiểm tra không phá hủy - Phương pháp dùng bột từ
- 8Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5870:1995 (ISO 9935:1992) về Thử không phá hủy - Thiết bị dò khuyết tật thẩm thấu - Yêu cầu kỹ thuật chung
- 9Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5868:2018 (ISO 9712:2012) về Thử không phá hủy - Trình độ chuyên môn và cấp chứng chỉ cá nhân thử không phá hủy
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5880:2010 (ISO 3059:2001) về Thử không phá hủy - Thử hạt từ và thử thẩm thấu - Điều kiện quan sát
- Số hiệu: TCVN5880:2010
- Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
- Ngày ban hành: 01/01/2010
- Nơi ban hành: ***
- Người ký: ***
- Ngày công báo: Đang cập nhật
- Số công báo: Đang cập nhật
- Ngày hiệu lực: 26/11/2024
- Tình trạng hiệu lực: Còn hiệu lực