TCVN 5876:1995

ISO 2128:1982

ANỐT HÓA NHÔM VÀ CÁC HỢP KIM NHÔM - XÁC ĐỊNH CHIỀU DÀY CỦA LỚP OXIT NHÔM ANỐT HÓA - ĐO KHÔNG PHÁ HỦY BẰNG KÍNH HIỂN VI TÁCH CHÙM

Anodizing of aluminium and its alloys - Determination of thickness of anodic oxide coatings - Non-destructive measurement by split - beam microscope

Lời nói đầu

TCVN 5876:1995 hoàn toàn tương đương với ISO 2128:1982.

TCVN 5876:1995 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC 135 Thử không phá hủy biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học, Công nghệ và Môi trường (nay là Bộ Khoa học và Công nghệ) ban hành.

Tiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.

ANỐT HÓA NHÔM VÀ CÁC HỢP KIM NHÔM - XÁC ĐỊNH CHIỀU DÀY CỦA LỚP OXIT NHÔM ANỐT HÓA - ĐO KHÔNG PHÁ HỦY BẰNG KÍNH HIỂN VI TÁCH CHÙM

Anodizing of aluminium and its alloys - Determination of thickness of anodic oxide coatings - Non-destructive measurements by split - beam microscope

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp không phá hủy xác định chiều dày của lớp ôxit anốt trên nhôm và các hợp chất của nhôm bằng kính hiển vi tách chùm.

2. Lĩnh vực áp dụng

Việc sử dụng phương pháp này bị hạn chế vì hai yếu tố:

- độ mờ của lớp mạ (chẳng hạn như không thể thực hiện các phép đo trên những lớp mạ có màu sẫm);

- độ nhám của bề mặt (chẳng hạn như không thể thực hiện các phép đo trên những lớp mạ bị rỗ sâu); và chỉ có thể đo nếu hai đường chiếu sáng được nói ở phần 4 là rõ ràng và tách bạch.

Tuy nhiên có thể tiến hành các phép đo trong hầu hết các trường hợp trong công nghiệp nếu chiều dày của lớp ôxit nhôm trên 10 µm, hoặc từ 5 µm trở lên nếu bề mặt nhẵn.

3. Định nghĩa

Trong tiêu chuẩn này, sử dụng các định nghĩa sau:

3.1. Chiều dày của lớp ôxit anôt là giá trị trung bình số học của các chiều dày đo ở ít nhất trên 10 điểm của khu vực kiểm tra.

3.2. Khu vực kiểm tra là phần bề mặt (hoặc phần đường thẳng) mà theo thỏa thuận giữa người cung cấp và người sử dụng cần có những đặc tính cụ thể nhất định.

4. Nguyên tắc

Trong kính hiển vi tách chùm, một chùm tia sáng song song được chiếu nghiêng một góc 45^o tới bề mặt được oxit hóa (xem Hình 1). Một phần của chùm này, R₁ được phản xạ từ mặt ngoài của lớp oxit còn phần khác, R₂, xuyên qua lớp ôxit và xuất hiện sau khi phản xạ từ mặt phân cách của kim loại - oxit và khúc xạ 2 lần.

Hình 1 - Sơ đồ đường đi tia sáng

Vì thế xuất hiện hai tia song song ở thị kính mà khoảng cách giữa chúng tỷ lệ thuận với độ dày của lớp oxit và tỷ lệ với độ phóng đại. Khoảng cách này cũng phụ thuộc vào chỉ số khúc xạ oxit, n, từ 1,59 đến 1,62 và phụ thuộc vào hình dạng của thiết bị. Khi góc tới và quang trục của vật kính của dụng cụ đo đều là 45^o thì chiều dày của lớp mạ được tính