Radiation protection - Evaluation of surface contamination - Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters
Lời nói đầu
TCVN 7078 1 : 2002 hoàn toàn tương đương với ISO 7503 1 : 1988.
TCVN 7078 1 : 2002 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/TC 85 “Năng lượng hạt nhân” biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành.
Tiêu chuẩn này được chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6 Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
AN TOÀN BỨC XẠ - ĐÁNH GIÁ NHIỄM XẠ BỀ MẶT - PHẦN 1: NGUỒN PHÁT BÊTA (NĂNG LƯỢNG BÊTA CỰC ĐẠI LỚN HƠN 0,15 MEV) VÀ NGUỒN PHÁT ANPHA
Radiation protection - Evaluation of surface contamination - Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters
1. Phạm vi và lĩnh vực áp dụng
Tiêu chuẩn này áp dụng cho việc đánh giá nhiễm xạ bề mặt tính theo hoạt độ phóng xạ trên một đơn vị diện tích đối với các thiết bị, dụng cụ và các côngtenơ chứa vật liệu phóng xạ và nguồn kín. Tiêu chuẩn này không áp dụng cho việc đánh giá nhiễm xạ trên da và quần áo.
Tiêu chuẩn này áp dụng đối với nguồn phát bêta có năng lượng cực đại Ebmax lớn hơn 0,15 MeV và nguồn phát anpha.
Tiêu chuẩn này chỉ áp dụng đối với nguồn phát bêta và anpha có suất phát xạ bêta (kể cả các điện tử đơn năng) và hạt anpha xấp xỉ 100 hạt trên 100 phân rã đối với từng loại (xem bảng 3 trong phần phụ lục).
Trong tiêu chuẩn này, khái niệm "năng lượng bêta" được hiểu là năng lượng cực đại của hạt bêta do nguồn phóng xạ phát ra.
Chú thích - Việc đánh giá độ nhiễm xạ bề mặt đối với triti sẽ được đề cập đến trong ISO 7503-2. Các hạt nhân phóng xạ quan trọng khác trong thực tiễn (ví dụ như các nguồn bắt điện tử và các nguồn chuyển dời đồng phân) sẽ được đề cập tới ở một tiêu chuẩn khác.
ISO 8769, Reference sources for the calibration of surface contamination monitors - Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters (Nguồn chuẩn để hiệu chuẩn các thiết bị kiểm xạ bề mặt đối với nguồn phát bêta (năng lượng cực đại lớn hơn 0,15 MeV) và nguồn phát anpha).
IEC Publication 325 - Alpha, beta and alpha-beta contamination meters and monitors (xuất bản phẩm số 325 của IEC - Các máy đo và kiểm xạ độ nhiễm xạ bề mặt đối với các nguồn bêta, anpha và anpha-bêta).
Trong tiêu chuẩn này các định nghĩa sau đây được sử dụng :
3.1 Nhiễm xạ bề mặt (surface contamination): Là sự nhiễm xạ bề mặt bởi các chất phóng xạ.
3.2 Nhiễm xạ bề mặt bám chặt (fixed surface contamination): Sự nhiễm xạ lên một bề mặt ở mức độ nó không thể tẩy bỏ được trong điều kiện làm việc bình thường.
3.3 Nhiễm xạ bề mặt có thể tẩy bỏ được (removable surface contamination): Sự nhiễm xạ có thể tẩy bỏ hoặc chuyển dời được trong điều kiện làm việc bình thường.
Chú thích:
1. Định nghĩa của cụm từ "điều kiện làm việc bình thường" là quan trọng để đánh giá nguy cơ hít vào hoặc xâm nhập chất phóng xạ khi người làm việc tiếp xúc với các bề mặt nhiễm xạ: "điều kiện làm việc bình thường" được hiểu là điều kiện làm việc mà ở đó cường độ cực đại của tác động cơ học có thể dẫn đến tẩy xạ bề mặt được giới hạn ở mức sau:
- sự tiếp xúc bình thường của cơ thể con người (có hoặc không có trang bị quần áo bảo hộ) với bề mặt nhiễm xạ, và
- sự tiếp xúc không phá huỷ với cường độ tương tự giữa bề mặt nhiễm xạ với các phần của thiết bị do con người trực tiếp tiếp xúc.
Cường độ tác động trong khi thử nghiệm tẩy xạ phải phù hợp với tác động cơ học nêu ở trên. Một lần tẩy bỏ bất thường không loại bỏ hết được tất cả sự nhiễm xạ.
2. Cần lưu ý rằng do ảnh hưởng của độ ẩm, hoá chất, v.v.. hoặc do hậu quả của sự ăn mòn hoặc sự khuếch tán, nhiễm xạ bám chặt có thể trở thành sự nhiễm xạ có thể tẩy bỏ đượ
Để xem đầy đủ nội dung Tiêu chuẩn/Quy chuẩn và sử dụng toàn bộ tiện ích của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
- 1Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7945-2:2008 (ISO 10648-2 :1994) về An toàn bức xạ - Tủ cách ly - Phần 2: Phân loại theo độ kín và các phương pháp kiểm tra
- 2Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8289:2009 về An toàn bức xạ - Thiết bị chiếu xạ công nghiệp sử dụng nguồn đồng vị gamma - Yêu cầu chung
- 3Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8663:2011 (ISO 21482:2007) về An toàn bức xạ - Cảnh báo bức xạ ion hóa - Dấu hiệu bổ sung
- 4Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5869:2010 (ISO 3999 : 2004) về An toàn bức xạ - Thiết bị chụp ảnh bằng tia Gamma trong công nghiệp - Yêu cầu kỹ thuật về tính năng, thiết kế và thử nghiệm
- 1Luật Tiêu chuẩn và quy chuẩn kỹ thuật 2006
- 2Quyết định 06/2002/QĐ-BKHCN về Tiêu chuẩn Việt Nam do Bộ trưởng Bộ Khoa học và công nghệ ban hành
- 3Nghị định 127/2007/NĐ-CP Hướng dẫn Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật
- 4Quyết định 2125/QĐ-BKHCN năm 2008 công bố tiêu chuẩn quốc gia do Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành
- 5Quyết định 4202/QĐ-BKHCN năm 2018 về hủy bỏ Tiêu chuẩn quốc gia về An toàn bức xạ do Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành
- 6Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7945-2:2008 (ISO 10648-2 :1994) về An toàn bức xạ - Tủ cách ly - Phần 2: Phân loại theo độ kín và các phương pháp kiểm tra
- 7Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8289:2009 về An toàn bức xạ - Thiết bị chiếu xạ công nghiệp sử dụng nguồn đồng vị gamma - Yêu cầu chung
- 8Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 8663:2011 (ISO 21482:2007) về An toàn bức xạ - Cảnh báo bức xạ ion hóa - Dấu hiệu bổ sung
- 9Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5869:2010 (ISO 3999 : 2004) về An toàn bức xạ - Thiết bị chụp ảnh bằng tia Gamma trong công nghiệp - Yêu cầu kỹ thuật về tính năng, thiết kế và thử nghiệm
- 10Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7078-1:2018 (ISO 7503-1:2016) về Đo hoạt độ phóng xạ – Đo và đánh giá nhiễm bẩn phóng xạ bề mặt Phần 1: Nguyên tắc chung
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7078-1:2002 (ISO 7503 - 1 : 1988) về An toàn bức xạ - Đánh giá nhiễm xạ bề mặt - Phần 1: Nguồn phát bêta (năng lượng bêta cực đại lớn hơn 0,15 MeV) và nguồn phát anpha
- Số hiệu: TCVN7078-1:2002
- Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
- Ngày ban hành: 07/11/2002
- Nơi ban hành: Bộ Khoa học và Công nghệ
- Người ký: ***
- Ngày công báo: Đang cập nhật
- Số công báo:
- Ngày hiệu lực: 21/11/2024
- Tình trạng hiệu lực: Ngưng hiệu lực