SAI LỆCH HÌNH DẠNG VÀ VỊ TRÍ BỀ MẶT - YÊU CẦU CHUNG VỀ PHƯƠNG PHÁP ĐO
Deviations from true form and disposition of surfaces - General requirements for measuring methods
Lời nói đầu
TCVN 5121 : 1990 do Viện nghiên cứu máy - Bộ cơ khí và Luyện kim biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng trình duyệt, Ủy ban Kỹ thuật và kỹ thuật Nhà nước (nay là Bộ Khoa học và Công nghệ) ban hành.
Tiêu chuẩn này đã được chuyển đổi năm 2008 từ Tiêu chuẩn Việt Nam cùng số hiệu thành Tiêu chuẩn Quốc gia theo quy định tại khoản 1 Điều 69 của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật và điểm a khoản 1 Điều 6, Nghị định số 127/2007/NĐ-CP ngày 1/8/2007 của Chính phủ quy định chi tiết thi hành một số điều của Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật.
SAI LỆCH HÌNH DẠNG VÀ VỊ TRÍ BỀ MẶT - YÊU CẦU CHUNG VỀ PHƯƠNG PHÁP ĐO
Deviations from true form and disposition of surfaces - General requirements for measuring methods
Tiêu chuẩn này áp dụng cho dung sai hình dạng và vị trí bề mặt của các chi tiết máy và dụng cụ, quy định những khái niệm và yêu cầu chung về phương pháp đo sai lệch hình dạng và vị trí bề mặt.
1.1. Để kiểm tra sai lệch hình dạng và vị trí bề mặt, có thể sử dụng các phương pháp và dụng cụ đo bất kỳ bảo đảm kiểm tra được sai lệch phù hợp với định nghĩa theo TCVN 2510-78.
1.2. Cho phép thay thế việc đo trực tiếp sai lệch hình dạng và vị trí bề mặt có đặc trưng tổng hợp (dung sai tổng hợp) được cho trong tài liệu thiết kế bằng việc đo sai lệch thành phần. VÍ DỤ:
- Đo sai lệch độ tròn và sai lệch profin mặt cắt dọc thay cho việc đo trực tiếp sai lệch độ trụ.
- Đo sai lệch độ song song của các đường trục trong mặt phẳng chung và độ xiên của các đường trục thay cho việc đo trực tiếp sai lệch độ song song của các đường trục trong không gian;
- Đo sai lệch các kích thước xác định tọa độ của đường trục thay cho việc đo trực tiếp độ sai lệch vị trí của các đường trục.
- Đánh giá chất lượng của các chi tiết theo kết quả đo các sai lệch thành phần hình dạng hoặc vị trí bề mặt được tiến hành trong theo một trong hai cách sau:
1.2.1. Tính toán sai lệch tổng hợp hình dạng hoặc vị trí bề mặt bằng cách cộng các giá trị đo được của các sai lệch thành phần và đối chiếu sai lệch tính toán này với dung sai tổng hợp cho trước về hình dạng hoặc vị trí.
1.2.2. Quy định trong tài liệu công nghệ những giá trị dung sai thành phần của các sai lệch thành phần và đối chiếu những sai lệch đo được với chúng. Trong tài liệu công nghệ, cần quy định thêm: đối với các chi tiết trong đó một trong các sai lệch thành phần vượt quá dung sai thành phần nhưng không vượt quá dung sai tổng hợp đã cho trong tài liệu thiết kế, việc đánh giá chất lượng của chúng được tiến hành theo mục 1.2.1, nghĩa là theo sai lệch tính toán.
Các phương pháp tính toán sai lệch tổng hợp hình dạng hoặc vị trí theo sai lệch thành phần và tính toán dung sai thành phần cho các sai lệch thành phần được quy định trong các tiêu chuẩn về các phương pháp đo sai lệch hình dạng và vị trí bề mặt riêng biệt.
Ví dụ đánh giá chất lượng chi tiết khi đo sai lệch thành phần được cho trong Phụ lục 2.
CHÚ THÍCH: tính chuyển đổi dung sai vị trí theo các dung sai kích thước xác định tọa độ của đường trục phần tử theo TCVN 3209 : 1979.
1.3. Ngoài các phương pháp đo được xác định từ định nghĩa chuẩn về sai lệch được đo, cho phép sử dụng các phương pháp đo có một hoặc một vài yêu cầu nào đó không phù hợp với định nghĩa này. Ví dụ: việc đo được tiến hành không ở tất cả các điểm của bề mặt hoặc profin, chuẩn để tính sai lệch khác với chuẩn đã được nêu ra trong định nghĩa chuẩn, không loại trừ được ảnh hưởng của sai lệch các thông số hình học khác mà định nghĩa chuẩn yêu cầu phải loại trừ .v.v..
Các phương pháp không hoàn toàn tương ứng với định nghĩa chuẩn của sai lệch được phép sử dụng t
Để xem đầy đủ nội dung Tiêu chuẩn/Quy chuẩn và sử dụng toàn bộ tiện ích của Hệ Thống Pháp Luật vui lòng lựa chọn và đăng ký gói cước.
Nếu bạn là thành viên. Vui lòng ĐĂNG NHẬP để tiếp tục.
- 1Luật Tiêu chuẩn và quy chuẩn kỹ thuật 2006
- 2Nghị định 127/2007/NĐ-CP Hướng dẫn Luật Tiêu chuẩn và Quy chuẩn kỹ thuật
- 3Quyết định 2922/QĐ-BKHCN năm 2008 tiêu chuẩn quốc gia do Bộ trưởng Bộ Khoa học và Công nghệ ban hành
- 4Tiêu chuẩn Việt Nam TCVN 10:1985 (ST SEV 368 - 76) về Hệ thống tài liệu thiết kế - Chỉ dẫn dung sai hình dạng và vị trí bề mặt bản vẽ
- 5Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 2511:2007 (ISO 12085:1996) về Đặc tính hình học của sản phẩm (GPS) - Nhám bề mặt - Phương pháp Profin - Các thông số của mẫu Profin
Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5121:1990 về Sai lệch hình dạng và vị trí bề mặt – Yêu cầu chung về phương pháp đo
- Số hiệu: TCVN5121:1990
- Loại văn bản: Tiêu chuẩn Việt Nam
- Ngày ban hành: 01/01/1990
- Nơi ban hành: Ủy ban Khoa học và Kỹ thuật Nhà nước
- Người ký: ***
- Ngày công báo: Đang cập nhật
- Số công báo: Đang cập nhật
- Ngày hiệu lực: 22/11/2024
- Tình trạng hiệu lực: Còn hiệu lực