TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 10310:2014

ISO 3497:2000

LỚP PHỦ KIM LOẠI - ĐO CHIỀU DÀY LỚP PHỦ - PHƯƠNG PHÁP QUANG PHỔ TIA X

Metallic coating - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods

Lời nói đầu

TCVN 10310:2014 hoàn toàn tương đương ISO 3479:2000.

TCVN 10310:2014 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC 174, Đồ trang sức biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

LỚP PHỦ KIM LOẠI - ĐO CHIỀU DÀY LỚP PHỦ - PHƯƠNG PHÁP QUANG PHỔ TIA X

Metallic coating - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods

1. Phạm vi áp dụng

CẢNH BÁO: Tiêu chuẩn này không đề cập tới vấn đề bảo vệ thử nghiệm viên khỏi tác hại của tia X. Thử nghiệm viên phải được đào tạo về an toàn bức xạ. Thiết bị phải được kiểm tra an toàn bức xạ định kỳ theo quy định về an toàn bức xạ hiện hành.

1.1. Tiêu chuẩn này quy định các phương pháp đo chiều dày lớp phủ kim loại bằng cách sử dụng các phương pháp quang phổ tia X.

1.2. Các phương pháp đo quy định trong tiêu chuẩn này chính là các phương pháp xác định khối lượng kim loại trên một đơn vị diện tích. Khi biết tỷ khối của lớp phủ, kết quả phép đo có thể được biểu thị như chiều dày tuyến tính của lớp phủ.

1.3. Các phương pháp đo cho phép đo đồng thời những hệ phủ có tới 3 lớp, hoặc đo đồng thời chiều dày và thành phần các lớp có đến ba cấu tử.

1.4. Các phạm vi đo thực tế của vật liệu phủ đã cho thường được xác định bởi năng lượng huỳnh quang tia X đặc trưng cần được phân tích và bởi độ không đảm bảo đo chấp nhận được của phép đo và chúng có thể khác nhau tuỳ thuộc vào hệ thống thiết bị và quy trình vận hành sử dụng.

2. Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các định nghĩa và thuật ngữ sau:

2.1. Huỳnh quang tia X, XRF (X-ray fluorescence, XRF)

Bức xạ thứ cấp được sinh ra khi một chùm tia X tới có cường độ lớn tác động lên một vật liệu nằm trên đường đi của chùm tia tới.

CHÚ THÍCH: Phát xạ thứ cấp có các bước sóng và năng lượng đặc trưng cho vật liệu đó

2.2. Cường độ bức xạ huỳnh quang (intensity of flourescent radiation)

Cường độ bức xạ, X, được đo bằng một thiết bị, được biểu thị bằng số lần đếm (các xung bức xạ) trên giây.

2.3. Chiều dày bão hoà (saturation thickness)

Đó là chiều dày, nếu vượt quá sẽ không sinh ra bất kỳ một thay đổi nào nhận biết được ở cường độ huỳnh quang.

CHÚ THÍCH : Chiều dày bão hoà tuỳ thuộc vào năng lượng hoặc bước sóng của bức xạ huỳnh quang, vào tỷ khối và số nguyên tử của kim loại đó và phụ thuộc vào góc của bức xạ tới và góc của bức xạ huỳnh quang so với bề mặt kim loại đó.

2.4. Cường độ chuẩn hoá x_n (normalized intensity)

Tỷ số của hiệu cường độ đo được từ một mẫu thử được phủ, x, và một vật liệu nền không phủ, x₀, và hiệu đo được từ một vật liệu có chiều dày bằng hoặc lớn hơn chiều dày bão hoà , x_s, (xem 2.3) và một vật liệu nền không phủ, x₀, tất cả được đo trong cùng một điều kiện.

CHÚ THÍCH 1: Mối quan hệ toán học được biểu thị như sau:

x_n =

Trong đó:

X là cường độ đo được từ mẫu thử được phủ;

X_o là cường độ đo được từ vật liệu nền chưa được phủ;

X_s là cường độ đo được từ