TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 5878:2007

ISO 2178:1982

LỚP PHỦ KHÔNG TỪ TRÊN CHẤT NỀN TỪ - ĐO CHIỀU DẦY LỚP PHỦ - PHƯƠNG PHÁP TỪ

Non – magnetic coatings on magnetic substrates – Measurement of coating thickness – Magnetic method

Lời nói đầu

TCVN 5878:2007 thay thế TCVN 5878:1995.

TCVN 5878:2007 hoàn toàn tương đương với ISO 2178:1982.

TCVN 5878:2007 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn TCVN/SC 1 Vấn đề chung về cơ khí biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

LỚP PHỦ KHÔNG TỪ TRÊN CHẤT NỀN TỪ - ĐO CHIỀU DẦY LỚP PHỦ - PHƯƠNG PHÁP TỪ

Non – magnetic coatings on magnetic substrates – Measurement of coating thickness – Magnetic method

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp sử dụng các dụng cụ đo chiều dầy lớp phủ thuộc loại từ trong các phép đo không phá hủy cho việc đo chiều dầy lớp phủ không từ (gồm các lớp phủ thủy tinh, và men sứ) trên kim loại nền từ.

Phương pháp này chỉ áp dụng cho các phép đo trên các mẫu phẳng hợp lý. Trong trường hợp các lớp phủ niken trên chất nền không từ, áp dụng phương pháp quy định trong TCVN 5877.

2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau là rất cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi.

TCVN 5877 (ISO 2361), Lớp mạ điện niken trên chất nền từ và không từ - Đo chiều dầy lớp mạ - Phương pháp từ.

ISO 2064, Metallic and other non-organic coatings – Definitions and conventions concerning the measurement of thickness (Lớp phủ kim loại và các chất vô cơ khác – Định nghĩa và quy ước liên quan đến phép đo chiều dầy).

3. Nguyên lý

Các dụng cụ đo chiều dầy lớp phủ thuộc loại từ hoặc đo lực hấp dẫn từ giữa một nam châm vĩnh cửu và kim loại nền khi chịu ảnh hưởng vì có lớp phủ, hoặc đo từ trở của một từ thông chạy qua lớp phủ và kim loại nền.

4. Các yếu tố ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo1

Các yếu tố sau đây có thể ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo chiều dầy lớp phủ.

4.1. Chiều dầy lớp phủ

Độ chính xác của phép đo thay đổi theo chiều dầy của lớp phủ mà chiều dầy này phụ thuộc vào việc thiết kế dụng cụ. Đối với các lớp phủ mỏng, độ chính xác là không đổi và độc lập với chiều dầy lớp phủ. Đối với các lớp phủ dầy, độ chính xác là gần như không đổi chiều dầy.

4.2. Các tính chất từ của kim loại nền

Các phép đo chiều dầy bằng phương pháp từ chịu ảnh hưởng bởi sự thay đổi tính chất từ khác nhau của kim loại nền. Trong thực tế, sự thay đổi tính chất từ trong thép các bon thấp có thể coi như là không đáng kể. Để tránh những ảnh hưởng của sự tập trung hay phân tán, quá trình xử lý nhiệt và gia công nguội, dụng cụ phải được chuẩn theo các mẫu chuẩn với kim loại nền có cùng các tính chất từ với mẫu thử hoặc tốt hơn là dùng cùng mẫu đã được thử trước khi phủ.

4.3. Chiều dầy kim loại nền

Đối với mỗi dụng cụ, có một chiều dầy tới hạn của kim loại nền các phép đo sẽ không bị ảnh hưởng khi tăng chiều dầy. Khi đó chiều dầy phụ thuộc vào đầu dò của dụng cụ đo và bản chất của kim loại nền, giá trị của nó phải được xác định bằng phép thử, trừ khi đã được nhà sản xuất quy định.

4.4. Các ảnh hưởng của cạnh

Phương pháp này rất nhạy với sự thay đổi đột ngột trên đường viền bề mặt của mẫu thử. Vì vậy các phép đo thực hiện quá gần các cạnh hoặc các góc trong sẽ không có giá trị trừ phi các dụng cụ được chuẩn đặc biệt cho các phép đo như vậy. Sự ảnh hưởng này có thể lên tới khoảng 20 mm từ chỗ gián đoạn, phụ thuộc vào dụng cụ.

4.5. Độ cong

Các phép