TCVN 7699-2-42:2014

IEC 60068-2-42:2003

THỬ NGHIỆM MÔI TRƯỜNG PHẦN 2-42: CÁC THỬ NGHIỆM - THỬ NGHIỆM Kc: THỬ NGHIỆM BẰNG LƯU HUỲNH ĐIOXIT ĐỐI VỚI CÁC TIẾP ĐIỂM VÀ MỐI NỐI

Environmental testing - Part 2-42: Tests - Test Kc: Sulphur dioxide test for contacts and connections

Lời nói đầu

TCVN 7699-2-42:2014 hoàn toàn tương đương với IEC 60068-2-42:2003;

TCVN 7699-2-42:2014 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E3 Thiết bị điện tử dân dụng biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

THỬ NGHIỆM MÔI TRƯỜNG - PHẦN 2-42: CÁC THỬ NGHIỆM - THỬ NGHIỆM KC: THỬ NGHIỆM BẰNG LƯU HUỲNH ĐIOXIT ĐỐI VỚI CÁC TIẾP ĐIỂM VÀ MỐI NỐI

Environmental testing - Part 2-42: Tests - Test Kc: Sulphur dioxide test for contacts and connections

1. Phạm vi áp dụng

Thử nghiệm này:

- nhằm cung cấp cách thức gia tốc để đánh giá các tác động ăn mòn của khí quyển ô nhiễm bởi lưu huỳnh đioxit lên các tiếp điểm và các mối nối;

- đặc biệt thích hợp cho việc cung cấp thông tin trên cơ sở so sánh;

- không thích hợp với tư cách là một thử nghiệm ăn mòn thông thường, tức là thử nghiệm này có thể không tiên đoán được đặc tính của các tiếp điểm và mối nối trong khí quyển công nghiệp.

CHÚ THÍCH: Thông tin nhận được từ các thử nghiệm ăn mòn gia tốc là có giới hạn, do đó cần chú ý đặc biệt đến phần hướng dẫn về thử nghiệm này được đưa ra trong IEC 60068-2-49. Cũng cần tham khảo tiêu chuẩn IEC 60355.

Mục đích của thử nghiệm này là:

a) xác định ảnh hưởng của khí quyển có chứa lưu huỳnh đioxit lên đặc tính tiếp xúc của các tiếp điểm và các mối nối kim bằng kim loại quý hoặc được phủ kim loại quý, không bao gồm các tiếp điểm bằng bạc và một số hợp kim của bạc;

b) kiểm tra các mối nối không có mối hàn liên quan đến độ kín hoặc tính hiệu quả của chúng. Trong tất cả các thử nghiệm, tiêu chí chính của tính năng sẽ là sự thay đổi về điện trở tiếp xúc gây ra bởi phơi nhiễm khí quyển thử nghiệm lưu huỳnh đioxit.

2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây là cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi).

IEC 60512-2-1:2002, Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact risistance - Millivolt level method (Bộ nối dùng cho thiết bị điện tử - Thử nghiệm và phép đo - Phần 2-1: Tính liên tục về điện và điện trở tiếp xúc - Thử nghiệm 2a: Điện trở tiếp xúc - Phương pháp mức milivon)

3. Thiết bị thử nghiệm

Thiết bị thử nghiệm bao gồm hệ thống tạo ra khí hậu, buồng thử nghiệm, hệ thống phân phối khí và phương tiện đo nồng độ khí, được trình bày chi tiết ở Phụ lục A.

3.1. Tủ thử nghiệm

Tủ thử nghiệm và các phần hỗ trợ của tủ phải được làm từ các vật liệu không phản ứng hoặc hấp thụ lưu huỳnh đioxit và không ảnh hưởng đến tác dụng ăn mòn của khí quyển thử nghiệm. Hỗn hợp không khí và lưu huỳnh đioxit phải đi vào và đi ra khỏi tủ qua các ống có đường kính đủ rộng sao cho lưu lượng tổng qua tủ thử nghiệm ít nhất bằng 3 lần, nhưng