TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 5857:2017

ĐÁ QUÝ - PHƯƠNG PHÁP ĐO CHIẾT SUẤT

Gemstones- Testing refractive index

Lời nói đầu

TCVN 5857:2017 thay thế TCVN 5857:1994.

TCVN 5857:2017 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC 174, Đồ trang sức biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

ĐÁ QUÝ - PHƯƠNG PHÁP ĐO CHIẾT SUẤT

Gemstones - Testing refractive index

1  Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp đo chiết suất để phân biệt các loại đá quý.

2  Bản chất phương pháp

Khi một tia sáng được chiếu vào một viên đá quý, tốc độ truyền ánh sáng trong đó sẽ giảm xuống ở mức độ nào đó tùy thuộc vào các đặc tính quang học - tinh thể của viên đá. Đại lượng phản ánh tính chất quang học đó của đá quý gọi là chiết suất n:

Trong đó:

Phương pháp đo chiết suất được sử dụng chủ yếu cho đá quý là phương pháp khúc xạ và thiết bị được dùng là khúc xạ kế (refractometer). Thiết bị này dựa trên sự tương quan giữa giá trị chiết suất n và góc phản xạ toàn phần của viên đá (góc tới hạn).

Sơ đồ nguyên lý của một khúc xạ kế dùng cho đá quý trình bày ở Hình 1.

Hình 1 - Cấu tạo và sơ đồ nguyên lý của máy khúc xạ kế

3  Thiết bị, dụng cụ

3.1  Khúc xạ kế

Những yêu cầu cơ bản của một khúc xạ kế dùng cho đá quý là:

- Phải là loại dùng để đo các chất rắn;

- Có dải đo chiết suất đủ rộng (thường từ 1,3 đến 1,8) để đo được đa số các loại đá quý;

- Có nguồn sáng natri với bước sóng chuẩn 5893 A;

- Có kính lọc phân cực để đo chiết suất những chất dị hướng quang học;

- Có dung dịch có chiết suất trung gian (1,81) giữa bán cầu (bán trụ) thủy tinh và viên đá để tạo ra tiếp xúc quang học giữa chúng (dung dịch đệm).

4  Mẫu thử

Mẫu để đo chiết suất phải có ít nhất một mặt được mài phẳng và đánh bóng theo đúng quy định. Chuẩn máy bằng các mẫu chuẩn chiết suất trước khi đo.

Rửa và lau sạch mặt của bán cầu (bán trụ) thủy tinh và mặt mẫu. Các mặt phẳng này không cho phép có các vết xước, nứt rỗ.

5  Cách tiến hành

Mờ nguồn sáng natri ch