TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 8261 : 2009

KÍNH XÂY DỰNG - PHƯƠNG PHÁP THỬ - XÁC ĐỊNH ỨNG SUẤT BỀ MẶT VÀ ỨNG SUẤT CẠNH CỦA KÍNH BẰNG PHƯƠNG PHÁP QUANG ĐÀN HỒI KHÔNG PHÁ HUỶ SẢN PHẨM

Glass in building – Test method for non-destructive photoelastic measurement of surface and edge stresses in flat glass

Lời nói đầu

TCVN 8261 : 2009 được xây dựng dựa trên cơ sở ASTM C1279-05

Standard Test Method for Non-Destructive Photoelastic Measurement of edge and surface stresses in Annealed, Heat- Strenghened and Fully Tempered Flat Glass.

TCVN 8261 : 2009 do Viện Vật liệu Xây dựng – Bộ Xây dựng biên soạn, Bộ Xây dựng đề nghị, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng thẩm định, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

KÍNH XÂY DỰNG - PHƯƠNG PHÁP THỬ - XÁC ĐỊNH ỨNG SUẤT BỀ MẶT VÀ ỨNG SUẤT CẠNH CỦA KÍNH BẰNG PHƯƠNG PHÁP QUANG ĐÀN HỒI KHÔNG PHÁ HUỶ SẢN PHẨM

Glass in building – Test method for non-destructive photoelastic measurement of surface and edge stresses in flat glass

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp đo ứng suất bề mặt và ứng suất cạnh của kính tôi nhiệt, kính bán tôi và kính ủ bằng phương pháp quang đàn hồi không phá hủy sản phẩm.

Phương pháp này không áp dụng cho các loại kính được tôi bằng hóa chất.

2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau là cần thiết khi áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm các bản sửa đổi, bổ sung (nếu có).

ASTM C 770 : 2003, Standard Test Method for Measurement of Glass Stress - Optical Coefficient (Tiêu chuẩn phương pháp đo hệ số ứng suất quang học của thủy tinh).

3. Thuật ngữ và định nghĩa

Trong tiêu chuẩn này sử dụng các thuật ngữ, định nghĩa sau:

3.1. Kính phân tích (analyzer)

Tấm phân cực được đặt giữa mẫu thử và thị kính.

3.2. Kính phân cực (polarizer)

Bộ phận quang học có tác dụng truyền dao động ánh sáng theo một hướng trên một mặt phẳng xác định, được đặt ở vị trí giữa nguồn sáng và mẫu thử.

3.3. Tấm bù chậm (retardation compensator)

Bộ phận của hệ quang học dùng để định lượng độ chậm quang học được tạo ra bởi vật liệu trong suốt lưỡng chiết. Tấm bù chậm được đặt giữa mẫu thử và kính phân tích. Có thể thay đổi các loại tấm bù cho phù hợp với việc định lượng độ chậm quang học.

4. Nguyên lý của phương pháp đo

4.1. Có hai phương pháp đo ứng suất được quy định trong tiêu chuẩn này.

4.1.1. Đo ứng suất bề mặt của kính bằng cách sử dụng chùm tia sáng gần như song song với bề mặt mẫu đo.

4.1.2. Đo ứng suất cạnh của kính bằng cách sử dụng chùm tia sáng vuông góc với bề mặt mẫu đo.

4.2. Cả hai phương pháp đo đều dựa trên cơ sở ứng dụng nguyên lý quang đàn hồi. Nếu trong vật liệu kính tồn tại ứng suất thì khi có chùm tia sáng chiếu qua sẽ tạo nên bất đẳng hướng quang học hay còn gọi là lưỡng chiết. Khi tia sáng phân cực đi qua vật liệu trong suốt bất đẳng hướng thì sự khác biệt về tốc độ truyền của tia sáng dao động quanh điểm lớn nhất và nhỏ nhất của ứng suất tạo thành độ chậm tương đối giữa hai tia sáng. Độ chậm tương đối này tỷ lệ thuận với độ lớn của ứng suất và có thể xác định chính xác nhờ tấm bù.

5. Mô tả cấu tạo, nguyên lý hoạt động của thiết bị

5.1. Sơ đồ nguyên lý hoạt động của thiết bị đo ứng suất bề mặt của kính

5.1.1. Nguyên lý hoạt động của thiết bị được chỉ ra