TIÊU CHUẨN QUỐC GIA

TCVN 10825:2015

ISO 24235:2007

GỐM MỊN (GỐM CAO CẤP, GỐM KỸ THUẬT CAO CẤP) - XÁC ĐỊNH SỰ PHÂN BỐ CỠ HẠT CỦA BỘT GỐM BẰNG PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ LAZE

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of particle size distribution of ceramic powders by laser diffraction method

Lời nói đầu

TCVN 10825:2015 hoàn toàn tương đương với ISO 24235:2007.

TCVN 10825:2015 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC206 Gốm cao cấp biên soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố.

GỐM MỊN (GỐM CAO CẤP, GỐM KỸ THUẬT CAO CẤP) - XÁC ĐỊNH SỰ PHÂN BỐ CỠ HẠT CỦA BỘT GỐM BẰNG PHƯƠNG PHÁP NHIỄU XẠ LAZE

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of particle size distribution of ceramic powders by laser diffraction method

1. Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định phương pháp nhiễu xạ laze để xác định sự phân bố cỡ hạt, bằng cách xác định sự phân bố góc của cường độ ánh sáng bị tán xạ bởi bột gốm mịn được phân tán trong pha lỏng được chiếu xạ bằng chùm tia laze. Dải kích thước điển hình từ 0,1 µm đến 50 µm.

2. Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn sau đây rất cần thiết cho việc áp dụng tiêu chuẩn này. Đối với các tài liệu viện dẫn ghi năm công bố thì áp dụng bản được nêu. Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất, bao gồm cả các sửa đổi, bổ sung (nếu có).

TCVN 8552:2010 (ISO 14703:2000), Gốm mịn (gốm cao cấp, gốm kỹ thuật cao cấp) - Chuẩn bị lấy mẫu để xác định sự phân bố cỡ hạt của bột gốm.

TCVN 8625:2010 (ISO 3082:2009), Quặng sắt - Quy trình lấy mẫu và chuẩn bị mẫu.

ISO 13320-1:1999, Particle size analysis - Laser diffraction methods - Part 1: General principles (Phân tích cỡ hạt - Phương pháp nhiễu xạ laze - Phần 1: Nguyên tắc chung).

ISO 14887:2000, Sample preparation - Dispersing procedures for powders in liquids (Chuẩn bị mẫu - Quy trình phân tán đối với bột trong chất lỏng).

3. Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa được nêu trong ISO 13320-1 và các thuật ngữ và định nghĩa sau.

3.1. Phân bố góc cường độ ánh sáng bị tán xạ (angular distribution of intensity of light scrattered)

Cường độ ánh sáng bị tán xạ là hàm của góc tán xạ.

3.2. Góc tán xạ (scrattering angle)

Góc giữa các hướng chùm laze được truyền và ánh sáng bị tán xạ được phát hiện.

3.3. Chỉ số khúc xạ tương đối (relative refractive index)

Tỷ lệ giữa chỉ số khúc xạ tuyệt đối của mẫu đối với phần thực của môi trường phân tán.

4. Nguyên tắc

Hạt được chiếu rọi bằng chùm tia chuẩn trực có bước sóng đã biết từ laze sẽ cho các vết tán xạ mà các vết này là hàm số của kích cỡ, hình dạng và chỉ số khúc xạ tương đối của hạt. Khi hạt phân tán trong chất lỏng được chiếu xạ bằng chùm tia laze, vết tán xạ được giả định là tổng của các vết của từng hạ